
Análisis de propiedades físicas de capas nanométricas por reflectometría de RayosX (XRR)
La reflectometría, a veces conocida como Reflectividad Especular de Rayos X (XRR), es una técnica analítica de superficie usada en química, física y en ciencia de los materiales para caracterizar las superficies, películas delgadas y multicapas con radiación de Rayos X Está relacionada con ciertas técnicas complementarias de neutrones, y elipsometría. La idea básica de …