Categoría: Monocristales

Análisis de propiedades físicas de capas nanométricas por reflectometría de RayosX (XRR)

Análisis de propiedades físicas de capas nanométricas por reflectometría de RayosX (XRR)

La reflectometría, a veces conocida como Reflectividad Especular de Rayos X (XRR), es una técnica analítica de superficie usada en química, física y en ciencia de los materiales para caracterizar las superficies, películas delgadas y multicapas con radiación de Rayos X

Está relacionada con ciertas técnicas complementarias de neutrones, y elipsometría. La idea básica de la técnica es incidir un haz monocromático de rayos x sobre una superficie plana a analizar evaluando, a continuación, la intensidad de los rayos x que se refleja en la dirección especular (ángulo reflejado igual al ángulo incidente). Si la capa analizada no está perfectamente plana y/o lisa, entonces la intensidad reflejada varía con respecto a la predicha por la Ley de reflectividad de Fresnel. A continuación se pueden analizar las desviaciones para obtener el perfil de densidad de la interfaz normal a la superficie.

El objetivo principal de este trabajo es caracterizar los principales parámetros físicos de las capas de grosor nanométrico y crecidas epitaxialmente, de tres muestras depositadas bajo tres condiciones diferentes.

Aquí tenéis el vínculo del trabajo referido.

A morenosita: un raro mineral galego

A morenosita: un raro mineral galego

A MORENOSITA, como todo mineral, é unha substancia natural de composición química e estrutura cristalina perfectamente definida. Foi descuberta polo profesor e reitor da Universidade de Santiago de Compostela D. Antonio Casares no século XIX en Cabo Ortegal (A Coruña) sendo esta localidade distinguida coma “localidade tipo” para este mineral según a IMA (International Mineralogical Association). No Museo de Historia Natural da USC atópanse algúns dos poucos exemplares de morenosita que están referenciados en todo o mundo, debido a que este mineral é moi pouco frecuente.

As mostras de morenosita do MHN están formadas polos elementos químicos Ni, S, O e H. As análises efectuadas, aparte destes elementos principais, tamén detectaron Mg e outros elementos traza coma o Co, Fe, Mn, Si, Al, etc. que estarían formando parte de impurezas. Coa difracción de raios X podemos identificar os diferentes minerais que se atopan formando parte dunha rocha, ademais de determinar as súas estruturas cristalinas, isto é, o ordenamento interno que teñen os átomos dentro do mineral.

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Colección científica de minerais da RIAIDT

Colección científica de minerais da RIAIDT

A Colección Científica de Minerais a RIAIDT (organizada segundo a Clasificación de Strunz) constitúe unha colección de minerais de especial relevancia polo seu valor didáctico, por incorporar minerais que nunca antes foran citados en Galiza e por estar todos os exemplares analizados por diversas técnicas analíticas (Difracción de Raios X de Monocristal e Po Cristalino, Fluorescencia de Raios X, Microscopía Electrónica de Varrido, Infravermellos, Raman, Resonancia Magnética Nuclear, Microfotografía estereoscópica, Microtomografía…) dispoñibles na RIAIDT.

A colección iniciouse no ano 2015 a partir de fondos propios das Unidades de Raios X e de Arqueometría e de diversas doazóns, en particular de Carlos Rodríguez Vázquez, Ximo Company Boronat e Eduardo Gómez Bargo. Na actualidade a colección medra en número de pezas e en analíticas, colabórase co Museo de Historia Natural contribuíndo ao desenvolvemento do coñecemento mineralóxico no Noroeste Peninsular e xéranse diversos produtos con fins de divulgación científica, didácticos, de difusión e de promoción científico-técnica das Unidades de Análise da RIAIDT.

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Polymorph analysis of an agrochemical compound

Polymorph analysis of an agrochemical compound

The objective of this study is to determine the purity of one sample basing on the comparison of their diffraction pattern with other of already reported structure. Based on the appearance and/or positioning of the peaks, we can infer if the analyzed sample is only incorporated or not, by the reported compound. Will it seek, if you find more than one crystalline pattern in the retrieved pattern, determine the nature of the crystalline phase that coexists with the reported pattern.
The powdered samples were measured on Philips type powder diffractometer fitted with Philips “PW1710” control unit, Vertical Philips “PW1820/00” gonniometer and FR590 Enraf Nonius generator. The single crystal data collection was performed with BRUKER APPEX-II CCD diffractometer fitted by fine-focus sealed tube, Mo Kα radiation, λ = 0.7107 Å

It can be concluded from the different analyses that the sample is formed by two polymorphs (two packing arrangements) of the analyzed compound, one of them not yet reported on CSD.
Moreover, we can confirm that the whole sample has been well defined if we take into account the two types of structures and we plot either peak predictions or simulations of these two polymorphs into the powder diffraction pattern.

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